HQ-RTS-L系列 紅外光學(xué)溫度計(jì)
HQ-RTS-L系列 紅外光學(xué)溫度計(jì)
HQ-RTS-L系列在控制晶圓之間溫度和薄膜厚度的均勻性方面具有更高優(yōu)勢(shì)。
HQ-RTS-L紅外溫度計(jì)采用高度敏感的電子器件及光學(xué)系統(tǒng)，可以使用更短波長(zhǎng)的探測(cè)器來(lái)測(cè)量輻射能，減少了晶圓透射及發(fā)射率造成的誤差。此外，紅外溫度計(jì)的高速采集和高分辨率對(duì)于控溫和噪聲抑制起到很好的作用，進(jìn)而對(duì)晶圓溫度監(jiān)控和生產(chǎn)工藝的提升能得到很好的幫助。
應(yīng)用案例
性能參數(shù)
上一個(gè)：
HQ-RTS-P系列 紅外光學(xué)溫度計(jì)
下一個(gè)：
開關(guān)柜局部放電在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng)
|
地址：陜西省西安市西咸新區(qū)空港新城臨空產(chǎn)業(yè)園11號(hào)樓
郵編：712033 電話：029-33312507 / 88887456 郵箱：sales@m.wenzige.cn | 
|
陜ICP備11001248號(hào) CopyRight?西安和其光電科技股份有限公司